Монография посвящена геометрическим основам кристаллографии. Изложение базируется на четырех аксиомах: дискретности, покрытия, локального равенства, рациональности. Эти аксиомы физически доста­точно очевидны, что помогает выяснить причины кристаллообразования. Все основные понятия кристаллографии (решетка, голоэдрия, сингония и т. д.) получают строгие определения, а основные положения представ­лены в виде теорем. Книга рассчитана на специалистов и учащихся, интересующихся крис­таллографией: математиков, физиков, химиков, минералогов.